超音波顕微鏡(SAM)
X-SAM M51
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AMX X-SAM M51

AMX X-SAM M-51は、パワーエレクトロニクス産業における品質管理のために設計された新しいシステムです。

研究開発作業や製造工程内の日々のサンプリング検査を容易にする、直観的なソフトフェアインターフェースを備えた高精度超音波顕微鏡です。

M-51は、ラボやクリーンルーム環境を想定して設計されています。研究開発段階におけるシンタリングやその他の接合作業後のテスト、分析、品質検査に最適なソリューションです。基本ユニットは、安全密閉フレーム+モニター+超音波顕微鏡分析システム内蔵のカスタマイズ化したPCで構成されています。

  • デスクトップ型ユニット
  • トランスデューサー(オプション)
  • 手動による出し入れ
  • Windows 10搭載のAMX ワークステーション
  • 高解像度モニター
  • AMX ソフトウェアインターフェース
  • AMX リモートサポートツール(オプション)
  • 水槽システム – 手動式
  • 緊急停止ボタン
  • 各種設計パラメーターはオペレーターパネルから設定および保存が可能
  • 操作マニュアルl
クリーンルーム & プロトタイプ製造